摘要：針對A位摻雜鈣鈦礦結構錳氧化物(A1-xBxMnO3)薄膜材料的微弱低頻1/f噪聲信號檢測,采用基于雙通道信號互相關運算的測試方法,有效消除了接觸噪聲對本底噪聲的影響。通過對薄膜樣品La0.7Sr0.3MnO3的低頻1/f噪聲和電阻率測量,揭示了由不同襯底材料、不同厚度所引起的薄膜晶格內部應力變化對載流子輸運機制的影響。結果表明,薄膜樣品的1/f噪聲水平和導電特性與材料厚度變化密切相關,La0.7Sr0.3MnO3/SrTiO3樣品在臨界厚度下表現(xiàn)出較低的1/f噪聲;而La0.7Sr0.3MnO3/SrTiO3/Si樣品隨著厚度增大,其1/f噪聲不斷優(yōu)化。上述結論對基于磁性材料的新型傳感器的研制具有重要的參考意義。