摘要：近年來GIS絕緣子沿面閃絡(luò)故障頻發(fā),閃絡(luò)誘因通常認(rèn)為是絕緣子表面微金屬顆粒,但實(shí)際運(yùn)行電壓下GIS絕緣子表面不同長度亞毫米/毫米級微金屬顆粒的局部放電量水平一直不被掌握。文中基于脈沖電流互參考法,建立了局放識別能力達(dá)0.02pC的高靈敏GIS脈沖電流局部放電測量系統(tǒng),在接近實(shí)際運(yùn)行電壓水平下,獲得了126k VGIS絕緣子表面0.5、2、5、8、10mm微金屬顆粒的局部放電量和放電特征,發(fā)現(xiàn)絕緣子表面單個5mm以下金屬顆粒的局部放電量低于1p C,特高頻法很難檢測到,揭示了GIS絕緣子表面亞毫米/毫米級微金屬顆粒長度、位置對局部放電特性的影響規(guī)律,顆粒長度越短,所處位置絕緣子表面場強(qiáng)越低,放電量越低,證明了現(xiàn)行局放出廠試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和特高頻方法對GIS絕緣子表面微金屬顆粒檢測存在的不足。