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離子后處理對TiO2光學薄膜及損傷特性的影響

毛思達; 鄒永剛; 范杰; 蘭云萍; 王海珠; 張家斌; 董家寧; 馬曉輝 長春理工大學高功率半導體激光國家重點實驗室; 吉林長春130022
  • tio2薄膜
  • 電子束蒸發(fā)
  • 光學常數(shù)
  • 等離子后處理
  • 激光損傷閾值

摘要:為了進一步提高TiO2薄膜的光學特性和激光損傷閾值,采用電子束蒸發(fā)技術(shù)在K9玻璃上沉積了單層TiO2薄膜,并用Ar/O混合等離子體對樣品進行后處理。通過研究薄膜光譜特性、表面缺陷密度、薄膜表面形貌、薄膜損傷閾值以及薄膜損傷形貌,分析了等離子體后處理時間對TiO2薄膜激光損傷特性的影響。實驗結(jié)果表明,隨著等離子體后處理時間的增加,薄膜折射率及致密度提高,物理厚度減少,表面粗糙度下降,表面缺陷密度先減少后增加;在1064nm激光輻射下,TiO2薄膜的激光損傷閾值從未經(jīng)等離子后處理的5.6J/cm2提升至后處理20min的9.65J/cm2,提升幅度高達72.3%,因此能夠更廣泛更穩(wěn)定地應用在激光器中。

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光學精密工程

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