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中子正比計數(shù)管內(nèi)徑與充氣壓力對中子靈敏度影響

景陽; 李彪; 李立 中核控制系統(tǒng)工程有限公司; 北京100176
  • 中子正比計數(shù)管
  • 中子靈敏度
  • 電子收集時間
  • 計數(shù)管內(nèi)徑
  • 充氣壓力

摘要:中子正比計數(shù)管內(nèi)徑和充氣壓力在不同程度上影響其中子靈敏度、電子收集時間、工作電壓等指標,根據(jù)多年的實際運行數(shù)據(jù)和試驗數(shù)據(jù)對中子正比計數(shù)管內(nèi)徑和充氣壓力對中子正比計數(shù)管性能的影響進行了定量分析。在實際運用過程中,可根據(jù)實際需要,選擇一個權衡點,作為生產(chǎn)探測器的參數(shù),以達到預期的效果。

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核電子學與探測技術

  • 預計1-3個月 預計審稿周期
  • 0.17 影響因子
  • 科學 快捷分類
  • 雙月刊 出版周期

主管單位:中國核工業(yè)集團公司;主辦單位:中核(北京)核儀器廠

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