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豎直平板上電容法測(cè)量水膜厚度方法評(píng)價(jià)

宋建; 韋勝杰; 于意奇; 胡珀; 楊燕華 解放軍海軍工程大學(xué)核能科學(xué)與工程系; 武漢430033; 上海交通大學(xué)核科學(xué)與工程學(xué)院; 上海200240
  • 電容探針
  • 動(dòng)態(tài)水膜厚度
  • 水膜表面波形態(tài)
  • 誤差分析
  • 探針有效截面

摘要:本文指出了電容探針測(cè)量動(dòng)態(tài)水膜厚度的若干影響因素,并針對(duì)其中主要因素水膜表面波形態(tài)對(duì)測(cè)量的影響進(jìn)行了定量分析。同時(shí),定性分析了影響測(cè)量的諸如電容探針有效截面、平板表面水膜覆蓋情況和水膜波動(dòng)速度及采樣頻率等其它因素對(duì)于測(cè)量的影響。誤差分析表明,電容探針的測(cè)量誤差與探針有效截面面積、探針截面與波動(dòng)表面夾角成正比,與測(cè)量值的絕對(duì)值成反比。

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