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多晶電池電學(xué)不良問(wèn)題分析

郭衛(wèi); 李雪方; 張雁東 潞安太陽(yáng)能科技有限責(zé)任公司; 山西長(zhǎng)治046000
  • 漏電流irev2
  • 并阻失效
  • 漿料污染

摘要:在太陽(yáng)能電池片生產(chǎn)過(guò)程中,不可避免地會(huì)有人工接觸硅片的情況,這樣會(huì)導(dǎo)致部分硅片降級(jí)為不良片,同時(shí),絲網(wǎng)印刷漿料污染和電池片隱裂等也會(huì)導(dǎo)致部分成品電池片因Irev2和Rsh異常而降級(jí)。文章從生產(chǎn)中人工接觸、漿料污染以及隱裂方面,研究分析了其對(duì)電性能的影響。

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