摘要：電離層總電子含量(TEC)是電離層探測(cè)與研究工作的重要特征參量之一.利用地基GPS接收站臺(tái)網(wǎng),可以獲得大量的垂直TEC數(shù)據(jù).本文提出一種高精度TEC地圖重構(gòu)方法,基于Kriging法對(duì)垂直TEC進(jìn)行插值處理,實(shí)現(xiàn)了亞大區(qū)域高分辨率TEC二維分布的重構(gòu),并與實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)比驗(yàn)證了本方法的精度和有效性.基于此二維分布,分析了區(qū)域TEC值隨時(shí)間、緯度的變化情況;重點(diǎn)分析了磁靜日與磁暴期間南北半球不同緯度TEC值的不同表現(xiàn)特征,并給出了磁暴期間不同緯度TEC的變化趨勢(shì)所存在的差異及其解釋,相關(guān)研究成果可為區(qū)域高分辨率電離層監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的建立提供方法支撐.