期刊簡(jiǎn)介

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability(Ieee Transactions On Device And Materials Reliability)是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的一本工程技術(shù)-工程：電子與電氣學(xué)術(shù)刊物，主要報(bào)道工程技術(shù)-工程：電子與電氣相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實(shí)踐。本刊已入選來(lái)源期刊，該刊創(chuàng)刊于2001年，出版周期Quarterly。2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級(jí)：Q2，2023年發(fā)布的影響因子為2.5，CiteScore指數(shù)4.8，SJR指數(shù)0.436。本刊非開(kāi)放獲取期刊。

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設(shè)備、材料、工藝、接口、集成微系統(tǒng)（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術(shù)（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應(yīng)用。從概念階段到研發(fā)再到制造規(guī)模，在每個(gè)階段對(duì)這些實(shí)體的可靠性進(jìn)行測(cè)量和理解，為成功將產(chǎn)品推向市場(chǎng)提供了設(shè)備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數(shù)據(jù)庫(kù)。這個(gè)可靠性數(shù)據(jù)庫(kù)是滿(mǎn)足客戶(hù)期望的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品的基礎(chǔ)。這樣開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品具有高可靠性。高質(zhì)量將實(shí)現(xiàn)，因?yàn)楫a(chǎn)品弱點(diǎn)將被發(fā)現(xiàn)（根本原因分析）并在最終產(chǎn)品中設(shè)計(jì)出來(lái)。這個(gè)不斷提高可靠性和質(zhì)量的過(guò)程將產(chǎn)生卓越的產(chǎn)品。歸根結(jié)底，可靠性和質(zhì)量不是一回事；但從某種意義上說(shuō)，我們可以做或必須做一切事情來(lái)保證產(chǎn)品在客戶(hù)條件下在現(xiàn)場(chǎng)成功運(yùn)行。我們的目標(biāo)是抓住這些進(jìn)步。另一個(gè)目標(biāo)是關(guān)注電子材料和設(shè)備可靠性的最新進(jìn)展，并提供對(duì)影響可靠性的基本現(xiàn)象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學(xué)科研究的論壇?？傮w目標(biāo)是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產(chǎn)品的創(chuàng)造至關(guān)重要。