摘要：將氧化石墨烯和乙烯基三乙氧硅烷(TEVS)混合液進(jìn)行γ射線輻照處理,制備聚硅氧烷功能化的改性氧化石墨烯(GO-Si),并通過(guò)紅外光譜(FT-IR)、拉曼光譜(Raman)表征分析GO-Si的結(jié)構(gòu)。在輻照時(shí),隨著吸收劑量增加,聚硅氧烷的接枝量也隨之增加;由于TEVS的接枝聚合,GO-Si表面的聚硅氧烷含量明顯提高。將GO-Si和羥基硅油共混,制備室溫固化的硅橡膠/改性氧化石墨烯復(fù)合材料(SR/GO-Si),與未改性氧化石墨烯(GO)相比,GO-Si與硅橡膠基體相容性更好,分散更加均勻。對(duì)SR/GO-Si和純SR的力學(xué)性能、導(dǎo)熱性能和輻照效應(yīng)進(jìn)行對(duì)比分析,結(jié)果表明,GO-Si的引入可以明顯提高復(fù)合材料的綜合性能,導(dǎo)熱系數(shù)從0.13W·m^-1·K^-1提高至1.1W·m-1·K^-1,拉伸強(qiáng)度提高了149%。在90kGy輻照條件下,GO-Si的引入對(duì)復(fù)合材料的輻照效應(yīng)起到積極作用,提高了拉伸強(qiáng)度和硬度,SR/GO-Si有望在低劑量輻射環(huán)境下作為電子封裝熱界面材料使用。