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β-Ga2O3歐姆接觸的研究進展

楊凱; 刁華彬; 趙超; 羅軍 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)微電子學(xué)院; 合肥230000; 中國科學(xué)院微電子研究所集成電路先導(dǎo)工藝研究中心; 北京100029; 中國科學(xué)院大學(xué); 北京100049
  • 歐姆接觸
  • 功率器件
  • 金屬電極

摘要:近年來,隨著氧化鎵(Ga2O3)晶體生長技術(shù)取得突破性進展,氧化鎵材料及器件的研究與應(yīng)用成為國際上超寬禁帶半導(dǎo)體領(lǐng)域的研究熱點。綜述了β-Ga2O3襯底的一些優(yōu)點以及面臨的挑戰(zhàn),重點介紹了如何實現(xiàn)良好的歐姆接觸。圍繞采用低功函數(shù)金屬、表面預(yù)處理、襯底摻雜和引入中間層的方法,闡述了目前國際上金屬/β-Ga2O3歐姆接觸的最新研究進展。總結(jié)了不同實驗條件下可以獲得的比接觸電阻,目前可以獲得的最低比接觸電阻是4.6×10^-6Ω·cm^2。最后,預(yù)測未來金屬/β-Ga2O3歐姆接觸的主要研究方向是提高歐姆接觸的熱穩(wěn)定性。

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微納電子技術(shù)

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