《Microelectronics Journal》國際標準刊號?ISSN：0026-2692，電子期刊的國際標準刊號：1879-2391。

創(chuàng)刊時間：1967年

出版周期：Monthly

出版語言：English

國際簡稱：MICROELECTRON J

研究方向：工程技術(shù) - 工程：電子與電氣

期刊定位與內(nèi)容：

微電子雜志(Microelectronics Journal)是一本由Elsevier出版的學(xué)術(shù)刊物，主要報道工程技術(shù)-工程：電子與電氣相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊，該刊創(chuàng)刊于1967年，出版周期Monthly。

《微電子雜志》發(fā)表專家撰寫的簡短易懂的評論，重點介紹工程：電子與電氣的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。

《微電子學(xué)雜志》自 1969 年創(chuàng)刊以來，是一個傳播微電子系統(tǒng)、電路和新興技術(shù)研究和應(yīng)用的國際論壇?！段㈦娮訉W(xué)雜志》上發(fā)表的論文都經(jīng)過同行評審，以確保其原創(chuàng)性、相關(guān)性和時效性。因此，該雜志提供了有關(guān)微電子電路和系統(tǒng)的全球定期全面更新。

《微電子學(xué)雜志》誠邀撰寫描述以下所有領(lǐng)域重要研究和應(yīng)用的論文。涵蓋最新發(fā)展的綜合評論/調(diào)查論文也將予以考慮?！段㈦娮訉W(xué)雜志》涵蓋電路和系統(tǒng)。該主題包括但不限于：模擬、數(shù)字、混合和射頻電路及相關(guān)設(shè)計方法；邏輯、架構(gòu)和系統(tǒng)級綜合；測試、可測試性設(shè)計、內(nèi)置自測試；面積、功率和熱分析與設(shè)計；混合域仿真與設(shè)計；嵌入式系統(tǒng)；非馮諾依曼計算及相關(guān)技術(shù)和電路；高復(fù)雜度系統(tǒng)集成的設(shè)計和測試； SoC、NoC、SIP 和 NIP 設(shè)計和測試；3-D 集成設(shè)計和分析；新興器件技術(shù)和電路，如 FinFET、SET、自旋電子學(xué)、SFQ、MTJ 等。

也歡迎應(yīng)用方面，例如信號和圖像處理（包括密碼電路）、傳感器和執(zhí)行器（包括傳感器網(wǎng)絡(luò)）、可靠性和質(zhì)量問題以及經(jīng)濟模型。

出版周期與發(fā)文量：

該雜志出版周期Monthly，每月發(fā)布一期。近年來，該期刊的年發(fā)文量約為293篇。

學(xué)術(shù)影響力：

2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級：Q3，2023年發(fā)布的影響因子為1.9，CiteScore指數(shù)4，SJR指數(shù)0.39。本刊非開放獲取期刊。

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