《Iet Computers And Digital Techniques》出版語言：English，具體論文語言需根據(jù)相關(guān)征稿要求而定，可聯(lián)系雜志社或在線客服。

該雜志是一本由Wiley出版的國際知名學(xué)術(shù)期刊，創(chuàng)刊于2007年，出版語言：English，專注于工程技術(shù)-計(jì)算機(jī)：理論方法領(lǐng)域，重點(diǎn)介紹工程技術(shù)-計(jì)算機(jī)：理論方法的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。

IET 計(jì)算機(jī)與數(shù)字技術(shù)發(fā)表技術(shù)論文，介紹數(shù)字片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)和電子及嵌入式系統(tǒng)測試各個(gè)方面的最新研究和開發(fā)工作，包括設(shè)計(jì)自動化工具（方法、算法和架構(gòu)）的開發(fā)。特別歡迎基于與 CMOS 技術(shù)縮小相關(guān)的問題的論文。它面向計(jì)算機(jī)和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測試領(lǐng)域的研究人員、工程師和教育工作者。

感興趣的關(guān)鍵主題領(lǐng)域是：

設(shè)計(jì)方法和工具：CAD/EDA 工具、硬件描述語言、高級和架構(gòu)綜合、硬件/軟件協(xié)同設(shè)計(jì)、基于平臺的設(shè)計(jì)、3D 堆疊和電路設(shè)計(jì)、片上系統(tǒng)架構(gòu)和 IP 核、嵌入式系統(tǒng)、邏輯綜合、低功耗設(shè)計(jì)和功率優(yōu)化。

仿真、測試和驗(yàn)證：電氣和時(shí)序仿真、基于仿真的驗(yàn)證、硬件/軟件協(xié)同仿真和驗(yàn)證、混合域技術(shù)建模和仿真、硅后驗(yàn)證、功率分析和估算、互連建模和信號完整性分析、硬件信任和安全性、可測試性設(shè)計(jì)、嵌入式核心測試、片上系統(tǒng)測試、在線測試、自動測試生成和延遲測試、低功耗測試、可靠性、故障建模和容錯。

處理器和系統(tǒng)架構(gòu)：多核系統(tǒng)、通用和專用處理器、DSP 應(yīng)用的計(jì)算算法、算術(shù)和邏輯單元、高速緩存、內(nèi)存管理、協(xié)處理器和加速器、片上系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)、嵌入式內(nèi)核、平臺、多處理器、分布式系統(tǒng)、通信協(xié)議和低功耗問題。

可配置計(jì)算：嵌入式內(nèi)核、FPGA、快速原型設(shè)計(jì)、自適應(yīng)計(jì)算、可演化和靜態(tài)和動態(tài)可重構(gòu)及可重新編程系統(tǒng)、可重構(gòu)硬件。

針對可變性、功耗和老化的設(shè)計(jì)：針對可變性、功耗和老化感知設(shè)計(jì)、內(nèi)存、FPGA、IP 組件、3D 堆疊、能量收集的設(shè)計(jì)方法。

案例研究：新興應(yīng)用、工業(yè)設(shè)計(jì)中的應(yīng)用以及設(shè)計(jì)框架。

此外，關(guān)于《Iet Computers And Digital Techniques》的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)如下：

（1）JCR分區(qū)信息：按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)：Q4，按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)：Q4

（2）Cite Score（2024年最新版）

（3）在中科院分區(qū)表中，大類學(xué)科中計(jì)算機(jī)科學(xué)為：4區(qū)，小類學(xué)科中COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工程技術(shù)-計(jì)算機(jī)：理論方法：4區(qū)

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